部分放電試験
耐電圧試験や絶縁抵抗試験では判らない絶縁物内部の劣化を評価する試験。原理は、絶縁物内部のボイド(空隙)や不純物内で発生する放電を、電荷の移動で検出する。(菊水電子工業の製品総合カタログ・用語集より)
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耐電圧試験や絶縁抵抗試験では判らない絶縁物内部の劣化を評価する試験。原理は、絶縁物内部のボイド(空隙)や不純物内で発生する放電を、電荷の移動で検出する。(菊水電子工業の製品総合カタログ・用語集より)