計測関連用語集

TechEyesOnlineの用語集です。
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ISVM(あいえすぶいえむ)

(Current Source Voltage Measure)SMUの機能の1つ。電流を印加して電圧を測定する。参考記事:高精度な電子部品の評価に貢献するSMU〜エーディーシー6253直流電圧・電流源/モニタSMUの概要や、ISVMのアプリケーション例を解説。

I0r測定器(あいぜろあーるそくていき)

R(抵抗)成分に起因する漏れ電流だけを正確に測定する漏れ電流計の総称。漏れ電流には容量負荷に流れる高調波成分もあるが、それを除いた測定ができる。2文字目のゼロを小さく書いたり、3文字目のアールを大文字にするという表記も見かける。メーカによって表記は違っている。「アイゼロアール」でなく「アイオーアール」と素人は間違いやすい(特に2文字目のゼロがこの表題のように大きな文字で書かれていると)。

I-Vチェッカ(あいぶいちぇっか)

太陽電池の性能を評価するために、電流-電圧特性(I-Vカーブ)を測定する測定器。PV(太陽光発電)用のI-V特性の測定器。英弘精機には品名「I-Vチェッカー」という製品がある。同社は日射計が有名だが、PV関連の計測器にも早くから参入し、MP-11、MP-170などの形名のモデルがある。参考記事(会員専用):【展示会レポート】スマートエネルギーWeek春展(FC EXPO/二次電池展/スマートグリッドEXPO)の3ページ目

I-V特性(あいぶいとくせい)

(Current–voltage characteristic) 半導体デバイスの電流(I)-電圧(V)特性。「横軸が印加した電圧、縦軸がそれによって流れる電流」のグラフで視覚的に特性を示す。半導体の評価に使われるもっとも基本的な仕様。半導体デバイスのデータブック(仕様書)にはI-V特性が記載されている。I-Vカーブ、I-Vグラフとも呼ばれる。半導体関連測定器のカーブトレーサの品名はここに由来する。太陽電池の変換効率測定にも使われるため、太陽光発電関連測定器にIVカーブトレーサ、I-Vチェッカなどの品名の製品がある。菊水電子工業の総合カタログの用語集によれば、「電池などの電気化学関係ではターヘルプロットとも呼ばれる」。カーブトレーサや半導体パラメータアナライザなどの高額な測定器を使わないでも、高性能なSMUでもI-V特性を測することができる。新製品取材記事「高精度な電子部品の評価に貢献するSMU〜エーディーシー6253直流電圧・電流源/モニタ」には、アプリケーション例としてダイオードの順方向電圧のI-V特性の測定について説明がある。

アナログ・フィルタ(あなろぐ・ふぃるた)

DMMに内蔵されている、高い周波数成分をカットするローパス・フィルタ。図はアナログ・フィルタの回路と周波数特性(キーサイト・テクノロジー8505A/8506Aの例)。

アナログ電圧計(あなろぐでんあつけい)

電圧を電気信号に変換し、さらに測定値をアナログ表示する機器。交流電圧計と直流電圧計に大別される。

アナログ電流計(あなろぐでんりゅうけい)

電流を電気信号に変換し、さらに測定値をアナログ表示する機器。交流電流計と直流電流計に大別される。

1.0級(いってんぜろきゅう)

アナログ表示の計測器(電圧計、電流計、電力計)の精度は5つ(0.2級、0.5級、1.0級、1.5級、2.5級)に分類されている(JIS、日本工業規格)。アナログ表示とは指針型のことで、白い板に黒字で目盛りが記載された上を針が動き、針が止まった数値を読んで測定値とする計測器のこと。0.2級が一番精度が良く標準器に使われている。計測器は1.0級と0.5級が多く、1.0級は準精密測定用、小型携帯用。1.0級とは±1.0%の誤差ということ。定格電圧100V(目盛りのフルスケールが100V)のアナログ電圧計で針が指す値が100Vだったら、±1.0Vの誤差がある。誤差はフルスケールの値に対して規定されているので、1.0級は一番良い精度が1.0%で、ほとんどの測定値は1.0%以上の誤差になることに注意が必要。参考用語:0.5級

SAR ADC(えすえーあーるえーでぃーしー)

(Successive Approximation Register Analog Digital Converter) 逐次比較型ADコンバータ。ADコンバータの方式は複数あり、一般的にデジタルマルチメータ(DMM)は積分型が多い。高ダイナミックレンジ、高精度に適した方式としてSARやデルタシグマ(ΔΣ)型がある。

SMU(えすえむゆー)

(source measure unit)ソース・メジャー・ユニット。電圧電流発生(ソース)機能と測定(メジャー)機能の両方がある計測器。電流と電圧を供給し、同時に高速・高確度で電流、電圧、抵抗を測定する。電子部品や半導体デバイスのI-V特性などの評価に使われる。 ISVM(電流を印加して電圧を測定)やVSIM(電圧印加電流測定)の機能がある。電源(電流源、電圧源)とデジタルマルチメータ(DMM)だけでなく、オプションでファンクションジェネレータ、オシロスコープ、電子負荷、パルスジェネレータなどが揃うモデルもある。キーサイト・テクノロジーやケースレーは半導体パラメータアナライザというSMUを装着して使える測定器があり、高精度の測定器群を同期して使える。SMUは電圧電流源&メータなので、カテゴリーはDMMと同じ「電圧・電流・電力測定器 」に区分されるが、アプリケーションは電子部品や半導体デバイス評価である。一般にSMUというと、外観は据え置き型のDMMで、筐体にSMUを装着して使うモデルと、分離できない一体型のモデルがある。一体型モデルは「直流電圧電流発生器(/モニタ)」の品名が多い(エーディーシーや横河計測)。ケースレーは「ソースメータ」や「ソース・メジャー・ユニット(SMU)」と表現している。キーサイト・テクノロジーは「ソース/メジャー・ユニット」や「ソース/メジャメント・ユニット」と品名を表記している。

可変アッテネータ(かへんあってねーた)

減衰量を可変出来る減衰器。(=可変抵抗減衰器)

可変抵抗減衰器(かへんていこうげんすいき)

減衰量を可変出来る減衰器。(=可変アッテネータ)

カレントモニタ(かれんともにた)

クランプセンサと組み合わせてレコーダやオシロスコープに接続し、電流波形を記録・観測する機器。

クランプ(くらんぷ)

クランプ電流計・クランプセンサーの略称。

クランプオンアダプタ(くらんぷおんあだぷた)

電線を挟み込んで電流を測定するセンサー。(=クランププローブ)

クランプオンリークハイテスタ(くらんぷおんりーくはいてすた)

日置電機の漏れ電流測定器の品名。電流測定はクランププローブが使われる。クランプとは電流が流れる線材を挟んでホール素子などで囲み、磁力線から電流値を検出する機構のことを指す。日置電機はプランプ製品のラインアップが最も多い計測器メーカの1つである。特に現場用の可搬型のテスタが強い。「ハイテスタ」という名称は日置電機特有のネーミング。たとえばメモリーレコーダを「メモリハイコーダ」。クランプ電流計を「クランプオンAC/DCハイテスタ」など、「ハイ」が好きである。そのため、クランプ式の漏れ電流計は「クランプオンリークハイテスタ」と呼んでいる。同社の2022年現在の漏れ電流関連製品は「リークハイテスタ」は生産中止で、「クランプオンリークセンサ」がある。

クランプセンサー(くらんぷせんさー)

電線を挟み込んで電流を測定するセンサー。(=クランププローブ)

クランプテスタ(くらんぷてすた)

クランプ型センサーを使用した電流計。(=クランプ電流計)

クランプ電流計(くらんぷでんりゅうけい)

クランプ型センサーを使用した電流計。(=クランプテスタ)

クランプ電力計(くらんぷでんりょくけい)

クランプ型センサーを使用した電力計。