計測関連用語集

TechEyesOnlineの用語集です。
計測・測定に関連する用語全般が収録されており、初めて計測器を扱う方でも分かりやすく解説しています。
フリーワード検索をはじめ、カテゴリー、索引から簡単にお調べいただけます。

フリーワード検索

検索用語一覧

4

各用語の詳細ページでは関連用語などを確認することができます。
このアイコンが表示されている用語には、詳細ページに図解や数式での説明があります。

ナイキスト線図(ないきすとせんず)

(Nyquist Diagram)周波数応答関数(伝達関数)の実数部を横軸に、虚数部を縦軸にとり、周波数に関して描かれたものをナイキスト線図といい、主に制御系の安定性の判別に利用する。他にゲインと位相で示したものにニコルス線図がある。(小野測器の「FFT解析に関する基礎用語集」より)

内部発生歪み(ないぶはっせいひずみ)

スペクトラムアナライザ等の受信機において、周波数変換するためにミキサが使われる。このミキサに加えられる局部発振器の信号レベルが高過ぎると、この信号の2次高調波および3次高調波が発生することがある。これらの高調波を「内部発生歪み」といい、測定誤差の原因となる。

(なみ)

時間の経過と共に繰返されるパターン。一般的な波には、正弦波、方形波、矩形波、のこぎり波、三角波、ステップ波、パルス波、周期波、非周期波、同期波、非同期波などがある。(テクトロニクス「オシロスコープのすべて」(2017年4月発行)より)

NAND型フラッシュメモリ(なんどがたふらっしゅめもり)

半導体メモリの代表的な1つ。SSD(Solid State Drive)に多く採用されている。もう1つの代表であるDRAMと比較されて語られることが多い。フラッシュメモリは不揮発性メモリの代表で、NAND型とNOR型がある。NANDはデジタル回路の論理演算で「Not AND(ANDでない)」のこと。

  • 1