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商品説明
高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HLは、出力~10Wクラス高出力レーザの発光ビームプロファイル計測に最適な、高出力レーザ計測対応レーザビームプロファイラ用光学系です。
計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。
検出器の選択は、弊社光センサラインナップの中から、測定波長や要求分解能にあわせて各種選択が可能です。また、当社光ビーム計測モジュールAP013との組み合わせによる高出力レーザ用レーザビームプロファイラ・NFP計測システムの構築が容易に可能です。
商品スペック
>>もっと見る【方式】ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式
【測定対応波長域】400nm-1100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択
【測定可能入射光量】~10W(標準)(応相談)
【対物レンズ倍率】10倍
【N.A.】0.28
【中間レンズ倍率】1倍(標準)、2倍(オプションの中間レンズ2倍仕様時)
【最大光学倍率】標準:10倍(10倍対物レンズ仕様時) オプション:20倍(10倍対物レンズ+中間レンズ2倍仕様時)
【観察視野】標準:約706μm×529μm(光学倍率10倍:高精度CMOS検出器ISA071/ISA071GL・10倍対物レンズ仕様時) オプション:約353μm×264μm(光学倍率20倍:高精度CMOS検出器・10倍対物レンズ+中間レンズ2倍仕様時)
【画素分解能】標準:約0.345μm(光学倍率10倍:高精度CMOS検出器ISA071, ISA071GL・10倍対物レンズ仕様時) オプション:約0.17μm(光学倍率20倍:高精度CMOS検出器ISA071, ISA071GL・10倍対物レンズ+中間レンジ2倍仕様時)
【落射照明ポート】オプション(外形φ8mm、ハーフミラー着脱式)、同軸落射照明装置は別売
【減光方式】ビームサンプラーにより約5%の反射光を光学系に導入、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式
【カメラマウント】Cマウント
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