計測器

計測器中古市
N7786C 偏波シンセサイザ キーサイト・テクノロジー
販売開始
2018 年 11 月
販売状況
販売中
販売開始時参考価格
サポート状況
サポート中
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商品説明

N778xCシリーズの偏波解析製品群の1機種。偏波コントローラ + 偏波制御機能。
光導波路など、2030年代に実現が期待されるフォトニクスネットワークで使われる光電融合デバイスの評価に最適。可変波長光源と光パワーメータによる損失測定(偏波依存性損失、PDL)に併用。波長に対する損失特性を評価。
他の代表的な製品(N778xCシリーズ)はN7788C 偏波コンポーネントアナライザ。

N7786Cには、高速ニオブ酸リチウムベースの偏光コントローラと、出力信号を監視してコントローラにフィードバックを提供する偏光アナライザが含まれています。このユニットは複数の動作モードがあります。
N7786Cの多くのアプリケーションは、内蔵ユーザー インタフースによってサポートされています。プログラミングでは新しい SCPI コマンド セットが使用され、機器は VISA リソースとしてアドレス指定されます。
この機器は、高さわずか 1 ラックユニットのコンパクトなフォームファクタで、LAN および USB インターフェイスを備えています。

特長
・包括的な偏波安定化/制御。
・高速スイッチング機能。
・フォトニックアプリケーション(ソフトウェア)を使用したシングルスイープスペクトルPDL測定。
・1240 nm ~ 1650 nm の動作波長範囲。
・可動光学部品がなく、堅牢。

商品スペック

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主な仕様
【アプリケーション】Swept-wavelength PDL measurement,Polarization alignment with device axes,Maximize contrast ratio in Interferometry,Polarization analysis
【DOP Meas. Uncertainty】± 2.%; ± 1.5% typical
【Input Power Range】-38 dBm to +19 dBm
【PDL】< 0.2 dB typical at 1550 nm
【SOP Cycling Time】< 10 µs
【SOP Meas. Uncertainty】1.5° typical
【Wavelength Range】1240 nm to 1650 nm

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