FA1283 フライングプローブテスタ日置電機 | 計測器

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日置電機

フライングプローブテスタ

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形名：FA1283

日置電機半導体測定器 FA1283

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商品説明

● Max.100points/secの高速検査
● 一般ベアボードからフレキ基板、CSPなどの微細、高密度基板まで検査可能
● 静電容量測定に加え、ダイオードなど部品内蔵基板用の計測機能も充実

商品スペック

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【アーム数】4 (上面2, 下面2)
【取付可能プローブ】1172シリーズ
【検査ステップ数】最大900,000ステップ
【検査項目・測定範囲:抵抗測定:】40.00 μΩ〜100.0 MΩ
【検査項目・測定範囲:容量測定:】10.00 fF〜40.00 mF
【検査項目・測定範囲:インダクタンス測定:】10.00 μH〜100.0 mH
【検査項目・測定範囲:ダイオードVZ測定:】0.000 V〜25.00 V
【検査項目・測定範囲:絶縁測定:】200.0 Ω〜100.0 GΩ
【検査項目・測定範囲:コンデンサ絶縁測定:】200.0 Ω〜10.00 MΩ
【検査項目・測定範囲:高電圧抵抗測定:】200.0 Ω〜25.00 GΩ
【検査項目・測定範囲:高電圧ショート測定:】400.0 mΩ〜400.0 kΩ
【検査項目・測定範囲:漏れ電流測定:】100.0 nA〜10.00 mA
【検査項目・測定範囲:ツェナーダイオードVZ測定:】0.000 V〜25.00 V
【検査項目・測定範囲:デジタルトランジスタ測定:】0.000 V〜25.00 V
【検査項目・測定範囲:フォトカプラ測定:】0.000 V〜25.00 V
【検査項目・測定範囲:導通検査:】400 mΩ〜1.000 kΩ
【検査項目・測定範囲:オープン測定:】4.000 Ω〜4.000 MΩ
【検査項目・測定範囲:ショート測定:】400.0 mΩ〜40.00 kΩ
【検査項目・測定範囲:直流電圧測定:】40.00 mV〜25.00 V
【判定範囲】-99.9%〜+999.9%, または絶対値
【最小パッドピッチ】35um(CP1075-09 使用時)(FA1971-01 搭載時) 40um(CP1075-09 使用時)
【最小パッドサイズ】5um(CP1075-09 使用時)(FA1971-01 搭載時) 10um(CP1075-09 使用時)
【測定スピード】Max. 100 points/s (0.1 mm移動・2アーム同時プロービング, 容量測定時)
【検査可能基板】厚さ: 0.1〜2.5 mm, 外形: 50W × 50D〜400W × 330D mm
【最大検査可能エリア】400W × 324D mm
【基板固定】基板2辺チャック方式 (テンション機構付き)
【電源】AC200 V, 220 V, 230 V, 240 V単相 (発注時指定) 50/60 Hz, 5 kVA
【寸法・質量】1360W × 1200H × 1280D mm (突起物除く), 1100 kg