計測器

プレミアム会員様限定限定クーポンを手に入れよう !
3380D VLSI Test System クロマ
販売開始
販売状況
販売中
販売開始時参考価格
サポート状況
サポート中
閲覧にあたっての注意事項
  • 販売開始時参考価格は発売当時の価格であり、現在の価格とは異なります。
    詳細はメーカへお問合せください。また、オプション構成によっても異なります。
  • 販売・サポートは登録時のものであり、現在の状況と異なる場合がございます。
    実際の状況はメーカーにお問合せください。
  • レンタル品は在庫が無く、ご希望に添えない場合がございます。予めご了承願います。
  • 中古品は既に在庫が無く、ご希望に添えない場合がございます。予めご了承願います。
  • 画像は同一シリーズのものを掲載している場合があります。

商品説明

・50 / 100MHzクロックレート・50 / 100Mbpsのデータレート
・1024個のI / Oピン(最大1280個のI / Oピン)
・最大1024サイトの並列テスト
・32/64/128パターンメモリ
・ピンあたり16Mのキャプチャメモリ
・さまざまなVIソース
・柔軟なハードウェアアーキテクチャ(交換可能なI / O、VI、ADDA、)
・リアルパラレルトリム/マッチ機能
・時間および周波数測定ユニット(TFMU)
・STDFツールのサポート
・テストプログラム/パターンコンバーター(J750、D10、S50 / 100、E320、SC312、V7、TRI-6036など)
・AD / DAテスト(オプション)
・SCANテストオプション(最大2G M /チェーン)
・組み込みメモリのALPGテストオプション
・CRAFT C / C ++プログラミング言語
・3380P / 3360Pと同じソフトウェアインターフェース
・ユーザーフレンドリーなWindows7環境

関連資料ダウンロード

カタログ倉庫で関連資料の検索をお願いします。
該当するカタログが無い場合もありますので、ご了承ください。

レビュー

この商品には現在レビューがありません。
レビュー投稿へのご協力をよろしくお願いいたします。

その他の計測器

サービス紹介

・動画で学べる「計測入門講座 Isee!」を掲載開始! 視聴は こちら

・計測・測定に関する用語全般を収録した TechEyesOnline の用語集をリリースしました「計測関連用語集

・メルマガ購読でTechEyesOnline掲載記事のPDFダウンロードサービスが受けられます。記事一覧は こちら

関連記事