・互換性の高い10 slotsテスト・ヘッド・最大周波数50/100 MHz、データレート 100/200 Mbps
・同時測定個数:最大512サイト
・デジタルI/Oピン:最大1024ピン
・ベクタメモリ:32/64 MW
・PMU (DC測定機能):最大32ch
・ピン毎に機能を保有 (timing/PPMU/frequency measurement)
・スキャンメモリ 最大 4G depth /32 scan chains
・ALPG (メモリ測定機能) オプション
・タイミング精度:±300ps
・高電圧ピン:最大64ch
・多チャンネル電源:DPS 96ch
・32ch HDADDA (ADC/DAC測定機能)オプション
・8~32ch VI45(±45V) アナログオプション
・2~8ch PVI100(±100V) アナログオプション
・MRX オプション(for 3rd party PXI/PXIe applications)
・C++ 及び GUI プログラミングインタフェース
・CRISP、操作が分かりやすい統合ソフトウェアツール
・他社テスタからのテストプログラム/テストパターンコンバータ可能
・他社テスタデバイスボードとの互換性
・STDF データ出力サポート
・テストヘッド内の空冷
・コンパクトテストヘッドと小型フットプリント設計