Medalist 5DX 自動X線検査システムキーサイト・テクノロジー | 計測器

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自動X線検査システム

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形名：Medalist 5DX

キーサイト・テクノロジー半導体測定器 Medalist 5DX

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販売開始: －

販売状況: メーカー製造終了

販売開始時参考価格: －

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商品説明

・ 1回のパスで両面パネルの両側の検査が可能な3次元X線検査機能。・パス・スルーまたはパス・バック・ローディングによる、プリント基板のアセンブリのはんだ接合部のインライン/オフライン自動プロセス・テスト用に設計。
・使いやすさを念頭に置いた設計。
・パネル全体のプログラミングに慣れたユーザであれば、製造までの時間は通常1日足らず。
■主な特長と仕様
・テスト全体の速度: 80～140接合/s(約1.0 in 2/s)。
・最大パネル・サイズ: 457 mm×609 mm。
・接合ピッチ: 0.3 mm以上(モデル5300)、0.2 mm以上(モデル5400)。
・ SMT、ピン・スルーホール、プレスフィット・コンポーネントのテスト・アルゴリズム。 >> アルゴリズム性能の一覧表示
・機械的な断層撮影法を使用した、はんだ接合部のデジタル断面X線画像。