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GSTM410Z di/dt TESTER キャッツ電子設計(CATS)
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商品説明

MOS-FETやダイオードの逆回復波形や破壊波形をオシロスコープから取り込み、ソフトウェアでdi/dtを求めその特性を判定します。OPEN/SHORT試験、ドライバーチェック機能もあり信頼性を向上させています。

商品スペック

【Vrr VOLTAGE】30V~400V
【GATE VOLTAGE】ON:0~+39.9V
【GATE VOLTAGE】OFF:0~-39.9V
【D.U.T BIAS】00.0~+39.9V/00.0~-39.9V
【GATE PULSE】ON:1~999μs
【GATE PULSE】OFF:1~999μs
【di/dt TIME】1~999μs
【Rg】1Ω~999Ω
【ID LIMIT】0A~99A
【PRE/POST CHECK】OPEN(VSD(VF)>3V)
【PRE/POST CHECK】SHORT(VDSS(VR)

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