IVS-2000-ST 光学断層測定器 santec | 計測器

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光学断層測定器

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形名：IVS-2000-ST

santec 光測定器 IVS-2000-ST

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販売開始: 2009 年 6 月

販売状況: 販売中

販売開始時参考価格: －

サポート状況: サポート中

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商品説明

IVS-2000-ST は、高い繰り返し精度を持つ中心波長 1310 nm帯のSS-OCTシステムです。
この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に適します。
また、測定の繰り返し精度が高く、コストも低く抑えられることから、インライン測定でも多く使われています。
【主要用途】
・SS-OCT入門機
・高精度インライン検査
・ウエハー厚さ、形状計測