2023/03/17 シェア プラスチックの劣化を X 線散乱と近赤外光吸収から分析する新たなシステム 産業技術総合研究所は、プラスチックの劣化状態を、X 線散乱と近赤外光吸収の同時計測により分析するシステムを開発した。劣化により破壊や変形が生じたプラスチックを、形状や厚みにかかわらず、非破壊で検査できる。 [続きを読む] 提供元 : MONOist
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