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商品説明
光変調器やレーザ・ダイオードの動的チャープ測定を簡単に、30秒以下で測定光伝送システムの長距離化や、波長多重光通信(WDM)およびビット・レートの高速化による大容量伝送が実用化されるにつれ、光変調器などの光デバイスで発生するチャープ*を測定し、評価したり、制御することが、伝送品質向上のために求められています。
アドバンテストが開発したQ7606A/7606B光チャープ・テスト・セットは、デジタル・サンプリング・オシロスコープおよびパーソナル・コンピュータと組み合わせることで光変調器やレーザ・ダイオード(LD)などの動的チャープ測定を簡単に、30秒以下で行うことを可能にしました。
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