2024/02/20
非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～ / 日本電子株式会社
| 主催会社 | 日本電子株式会社 |
|---|---|
| イベント名 |
非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～ |
| 開催日時 | 2024年2月20日（火） 16:00～17:00 |
| 開催方法 | ウェビナー（Zoom） |
| 参加費 | 無料 |
| 内容 |
SEMで導電性の低い試料をそのまま観察すると、帯電（チャージアップ）が生じ、正常なコントラストが得られません。このような試料については帯電対策が不可欠ですが、観察目的や前処理の可否により、帯電対策が異なります。本セミナーでは、導電性の低い試料の観察事例をケーススタディ形式で紹介し、適切な帯電対策の選択について基本的な考え方を解説します。
このウェビナーから学べること
講演者松本 雄太 氏（日本電子株式会社） |
| こんな方におすすめ |
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| 関連製品 |
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| 主催者の申し込みページ | 以下のリンク先からお申し込みください非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～ |
| その他 |
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| お問い合わせ先 |
日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 E-mail： sales1[at]jeol.co.jp ※[at]は＠に、ご変更ください。 |