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商品説明
専用設計のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度でエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁特性評価の同時計測可能。
マルチチャネルでのイベント(瞬断)を含む導通信頼性測定が可能
最速50nsec間隔でイベント(瞬断)を検出
イベント(瞬断)検出と同時に抵抗測定も実施
イベント(瞬断)検出/抵抗測定範囲は100mΩ~3000Ω
イベント(瞬断)幅を50nsec分解能で測定可能
印加電流は1mA/10mA/100mAなどから選択
チャネル数は8~256ch
振動機や落下試験器と連動も可能
Windowsアプリケーションにより簡単操作&データ管理
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