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大型高度加速寿命試験装置 HASTチャンバー

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EHS-431 大型高度加速寿命試験装置 HASTチャンバー エスペック
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商品説明

電気・電子部品の高密度化に伴い、部品材料の高度加速寿命試験の必要性がさらに高まっています。高度加速寿命試験装置は、一定の電圧や信号を印加するバイアステストを中心に考えた機能を搭載しています。

制御方法は「不飽和制御」「濡れ飽和制御」の2モードの標準タイプと「乾湿球温度制御」「不飽和制御」「濡れ飽和制御」の3モードを装備したMタイプ。Mタイプは、プレッシャークッカー試験や不飽和プレッシャークッカー試験が可能、大型ながら国際規格IEC-60068-2-66に対応しています。

また、奥行きのあるロングタイプもラインナップ。従来のHASTチャンバーに加え、より大型の試験装置をご提供できます。

・特徴
-常圧下での耐湿試験に比べて、試験時間の短縮が可能
-標準品に加え、より大きな試料投入に対応した2タイプをラインナップ
-機械式扉ロック機構/扉ロックセーフティ機構を標準で装備

・半導体向け各種試験規格への対応
IEC-68-2-66 小型の電気・電子部品(主に非気密封止部品):不飽和
IEC749 半導体デバイス:不飽和
EIAJ ED-4701 半導体デバイス:不飽和
JEDEC A110 非気密封止(中空でない)デバイス:不飽和
JEDEC A102-A 非気密封止IC、ディスクリートデバイス:飽和
※上記試験規格に適合した試験を実施するには、M計装を選択してください。

・その他、試験規格への対応
JIS C 60068-2-66 集積回路、半導体素子のアルミニウム金属の腐食:不飽和
JPCA-ET08-2002 プリント配線板:不飽和

商品スペック

【試験室内法】φ635×L728mm(130L)
【外寸法(W×H×D)】W800×H1575×D1260
【不飽和制御】温度制御範囲105.0~162.2℃、湿度制御範囲75~100%rh、圧力範囲0.0196~0.392MPaG、加熱加圧時間(atRT.23℃)約90分
【濡れ飽和制御】温度制御範囲105.0~151.1℃、圧力範囲0.0196~0.392MPaG、加熱加圧時間(atRT.23℃)約90分

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