2017/09/13
FRAセミナー/株式会社エヌエフ回路設計ブロック
| 主催会社 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック |
|---|---|
| イベント名 | FRAセミナー |
| 開催日程 | 2017年10月4日(水) |
| 時間 | 13:30 -15:15:ゲインフェーズ分析器を使ったスイッチング電源の安定性評価 15:30 -17:00:周波数特性分析器(FRA)を使用したインピーダンス測定 |
| 会場 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック NFテクニカルスクエア 〒171-0021 東京都豊島区西池袋3-1-13明光ビル8階 (池袋駅 徒歩3分、池袋警察署向い) 地図⇒こちら |
| お問い合わせ | ご案内: 13:30からこちら ご案内: 15:30からこちら |
| 参加費 | 無料 |
| 定員 | 30名 |
| 内容 |
■ゲインフェーズ分析器を使ったスイッチング電源の安定性評価: スイッチング電源のループ利得特性を測定することで、その安定性を定量的に評価することが可能です。ゲイン・フェーズ分析器は、広いダイナミックレンジや優れたノイズ除去特性により、ループ利得測定に使用されています。 本セミナーでは、新発売のゲイン・フェーズアナライザFRA51602の特長をご紹介するとともに、実際の電源回路を測定するデモンストレーションを交えて、測定方法をわかりやすく解説します。 ■周波数特性分析器(FRA)を使ったインピーダンス測定: 電子部品などのインピーダンスを測定する機器は汎用器では、部品に印加する信号は小信号となります。周波数特性分析器(FRA:Frequency Response Analyzer)を使用することで、小信号はもちろん、高電圧や大電流といった大振幅の信号での測定ができます。また、通常では測定が難しいスイッチング電源の出力インピーダンス測定も可能です。 本セミナーでは、新発売の周波数特性分析器FRA51615の特長をご紹介するとともに、電子部品(インダクタなど)やスイッチング電源の出力インピーダンスを測定するデモンストレーションを交えて、測定方法をわかりやすく解説します。 |