高度なICデザインとテクノロジーにより困難な問題の解決を支援最先端の電気や光の測定では、オシロスコープの帯域に制限を受けることなく立ち上がり時間を測定する必要があります。
測定対象の信号は表示しなければなりませんが、オシロスコープのノイズは不要です。また、高速解析とハードウェアアクセラレーションが必要となります。
Infiniium Zシリーズではこれらを実現しているほか、RealEdgeテクノロジーにより、63 GHzのオシロスコープ帯域幅と優れたシグナルインテグリティーも提供しています。
Zシリーズはリン化インジウム・チップ・テクノロジーとおよびカスタム薄膜パッケージを利用し、究極の低ノイズ、低ジッタ、高い有効ビット数を実現しています。
これらのテクノロジーにより信号を正確に表示します。

・差動測定に最適化された1個のオシロスコープフレームで最大63 GHzの帯域幅(2チャネル)
・高速で応答性に優れた160 GSa/sサンプリングレートの高いタイミング分解能
・大容量メモリ(チャネルあたり最大2 Gポイント)で多くの信号を捕捉
・低ノイズと低ジッタ測定フロア
・最も包括的なアプリケーション固有のソフトウェアによる、デジタル/RFドメインの詳細解析
・最大30 GHzプロービングシステムと柔軟性の高いオプションにより、被試験信号へのアクセスを向上

モデルDSAZは高度な高機能パッケージ(ソフトウェアなど)に対応、DSOZは未対応モデル。