TechEyesOnline取材班（TEO）は、9月13日(水)～15日(金)に東京ビックサイト東ホールで開催された「測定計測展 /Measuring Technology Expo 2017」を取材しました。出展された多くの企業および製品の中から、TEOの目にとまった3社の魅力的な製品をご紹介します。

❶ カラー光切断法 ❷ 動画像運動解析ソフトウェア ❸ MAPVISION Quality Gate

❶ 白色LEDによる鮮明な3次元画像

製品名：	カラー光切断法Ver.2.0
メーカ名：	株式会社アバールデータ
説明者：	本社・町田事業所　営業部　2グループ チーフ　坂本　章 氏

坂本氏：本日展示しているのは、カラー光切断法を使った、3次元画像処理ソフトウェア製品です。製品構成は測定部分の装置（ハードウェア）と画像処理ソフトウェアとなります。三次元形状とテクスチャを同時に測定できて、3D形状検査計測用の画像処理ソフトウェアとしては、先日、アルゴリズムの部分で特許を取得しました。

TEO：これは搬送ステージに載ったコイン（被測定物）にレーザー光をあてて撮影しているのですか？

坂本氏：レーザー光ではなく、白色LEDの光をあてて、コインを3次元計測しています。ディスプレイ上に表示されている3つの測定画像でご説明しますと、左上がデプス高さ情報を示したもので、左下にあるのがテクスチャと呼ばれる、いわゆる2次元の画像データ、右側に大きくカラーで映っているのがメインの三次元画像になります。（右下図参照）