収差補正装置を搭載した走査透過電子顕微鏡（STEM）は高い空間分解能を有し、材料科学をはじめとする幅広い分野で利用されています。本ウェビナーでは、新型収差補正装置を搭載したSTEMを紹介します。高次収差の補正によりロンチグラムのフラットエリアが拡大し、像形成に利用可能な収束角が増加しています。これにより、特に低加速電圧において高い空間分解能を実現します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

• 大収束走査透過電子顕微鏡の効果
• 大収束走査透過電子顕微鏡を使った高分解能観察例、分析例

• 電子顕微鏡を利用されている方
• 高分解能観察・低加速電圧での観察に興味がある方

• GRAND ARM™ 3 原子分解能分析電子顕微鏡

日本電子株式会社
SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部

発表資料の配布は行いません。

講演録画の後日掲載は行いません。

講演終了後に質疑応答の時間を設けています。
ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。

なお、質疑応答では、本ウェビナーの内容に関するご質問を中心にお受けいたします。その他のお問い合わせにつきましては、別途お問い合わせ窓口よりご連絡ください。