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セミナー情報

2026/09/11

走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座 / 日本電子株式会社

主催会社 日本電子株式会社
イベント名 走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座
開催日時 2026年9月11日
10:00~(受付は09:45~)
開催会場 日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口(7番出口) 徒歩2分
アクセスマップ
参加費 無料
定員 7名 (先着順)
内容
この度、下記内容にて「走査電子顕微鏡(SEM) 基礎講座」を開催することになりました。
つきましては、ご多忙とは存じますが、是非ご参加賜りたくよろしくお願いします。
対象者
  • タングステンタイプの走査電子顕微鏡をご利用のお客様
プログラム

09:45

受付開始

10:00

講義 SEMの上手な使い方
  • SEMで得られる情報
  • 帯電と低真空モード
  • より良いSEM像を得るために「観察条件の設定」
  • 試料のマウント方法
講義 EDSの上手な使い方
  • SEMによる元素分析
  • EDSでできること
  • 分析条件の設定「SEM/EDSの条件設定」・「試料の注意点」
  • 分析の注意点

12:00

休憩

13:00

実習 SEM、EDSの実機を使った実習

※実習装置 JSM-IT510LA 分析走査電子顕微鏡

16:00

終了

主催者の申し込み
ページ
以下のリンク先からお申し込みください
走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座
その他
  • プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
  • 昼食は近隣の飲食店をご利用ください。
  • 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用ください。
  • キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
お問い合せ 日本電子株式会社 大阪支店
TEL 06-6304-3942
E-Mail : sosaka[at]jeol.co.jp
※[at]は@に、ご変更ください。

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