走査電子顕微鏡（SEM）は試料表面を観察する装置であり、内部構造の観察には断面作製が重要です。機械研磨やクロスセクションポリッシャTM（CP）、集束イオンビーム加工装置（FIB）などの方法では、高価な装置や専門的な前処理が必要です。本ウェビナーでは、剃刀を用いた簡便な断面作製法をご紹介します。紙や金属めっき線を対象に、刃の使い方と断面構造の関係を検討し、試料特性に応じた工夫で目的に適した観察を可能にしました。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。 なお、本セミナーは1月30日（金）に実施した内容と同一です。当日ご参加いただけなかった方や、復習として受講されたい方はぜひご参加ください。

• 剃刀による簡便な断面作製法
• 試料特性に応じた剃刀の使い方
• 断面試料装着アダプター

• 試料内部構造への影響を抑えた断面作製を希望する方
• コストを抑えた断面作製を希望する方
• SEM観察前の前処理にご興味のある方

• JSM-IT210 走査電子顕微鏡
• JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡
• JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
• JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡
• JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
• IB-19540CP クロスセクションポリッシャ™ IB-19550CCP 冷却クロスセクションポリッシャ™
• JIB-PS500i FIB-SEMシステム
• JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

日本電子株式会社
SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部

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講演終了後の質疑応答は行いません。