計測器のオンラインショップ「速納.com」
初めての方へ
広告掲載ご案内
お問い合わせ
会員登録
  1. トップ
  2. >セミナー情報
  3. >日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ共同開催 SEM & ナノインデンター「ワークショップ2026」 / 日本電子株式会社

セミナー情報

2026/07/15

日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ共同開催 SEM & ナノインデンター「ワークショップ2026」 / 日本電子株式会社

主催会社 日本電子株式会社
イベント名 日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ共同開催
SEM & ナノインデンター「ワークショップ2026」
開催日時 2026年7月15日　
13:00～16:30
開催会場 日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14-5 ニッセイ新大阪南口ビル 1階
アクセスマップ
参加費 無料
定員 24名(予定)

※ 定員になり次第申し込み締め切りますのでお早目にお申し込みください。
内容
恒例となりましたジョイントセミナーを、今年度はワークショップ形式で開催いたします。オックスフォード・インストゥルメンツからは、昨年度にスタートしたSEM用ナノインデンターをメインに、インデンター/EBSDのデータ相互性とin-situ EBSDのご紹介を行います。日本電子からは、インデンターを搭載する高性能&ハイスループットSEMと、インデンター試料作成にも使用されるFIB-SEMのご紹介を行います。

当日は FE-SEM “JSM-IT710HR”の試料室内に、ナノインデンター“NMT04”を設置したLiveデモンストレーションを実施いたします。本セミナーは現地開催のみとなります。実機デモを見学頂ける貴重な機会となっておりますので、ぜひご参加ください。
このセミナーから学べること
  • 最新のSEM、FIB-SEMを用いたナノインデンターのアプリケーションのご紹介
  • ナノインデンターの実機デモンストレーション
参加いただきたいお客様
  • nm～µmサイズの材料力学特性にご関心のSEM経験者
  • 金属、非金属の物性評価に興味のある方
  • EBSDとナノインデンターの複合解析に興味のある方
  • ナノインデンターを搭載するSEM、FIB-SEMの条件を知りたい方
関連製品
プログラム

12：30～13：00

受付開始

13：00～13：30

FIB-SEM JIB-PS500iの紹介
～TEM試料作製から三次元測定まで～

日本電子株式会社
SIセミコンダクタービジネス本部
FIBフィールドアプリケーションエンジニア
河野 一郎

13：30～14：00

高性能&ハイスループットSEM
～JSM-IT510/710HR/810シリーズのご紹介～

日本電子株式会社
SIグローバル本部 SI販売促進室
中嶌 香織

14：00～14：30

“見ながら押す”In-SEM Nanoindenterのご紹介

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部
アプリケーショングループ
中島 里絵

14：30～14：45

休憩

14：45～15：15

in-situ EBSD測定とAZtecCrystal新機能のご紹介

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部
アプリケーショングループ
五十嵐 誠

15：15～16：30

実機見学 SEM: JSM-IT710HR / ナノインデンター:NMT04

16：30～

閉会
主催者の申し込み
ページ		 以下のリンク先からお申し込みください
日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ共同開催 SEM & ナノインデンター「ワークショップ2026」
その他
  • フォームからお申込み出来ない場合、恐れ入りますが問い合わせ先までご連絡ください。
  • 申し込みは先着順になります。お早目にお申し込みください。
  • 同業他社様、代理店様のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承下さい。
お問い合せ 日本電子株式会社
SI営業本部　国内SI営業部 大阪SIグループ　担当者
techigo[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。

タグ

セミナー
日本電子
終了