本ウェビナーでは、FIB‑SEMとEBSDを組み合わせ、事前に結晶方位を特定した上で目的方位からTEM試料を作製するワークフローを紹介します。Air‑Isolation搬送を用いることで、試料傾斜を最小限に抑えたNMC正極材料の高品質なTEM/STEM観察した例をご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

• 結晶方位を制御したFIB-SEMによるTEM試料作製の実践的なワークフロー
• 電池材料など嫌気性材料の大気非曝露搬送及び非曝露解析法
• EBSDによる位置決めを活用した高品質なTEM/STEM解析を行う方法

• 嫌気性材料のTEM解析を行う電池分野の研究者
• 結晶方位制御に基づくTEM試料作製に関心のあるFIB‑SEM／EBSDユーザー
• 実用的なAir‑Isolationワークフローを求めるTEM試料作製技術者

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

門井 美純
日本電子株式会社
SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部

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後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。
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講演終了後に質疑応答の時間を設けています。
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