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セミナー情報

2026/07/14

TEMにおけるEDSの基礎 / 日本電子株式会社

主催会社 日本電子株式会社
イベント名 TEMにおけるEDSの基礎
開催日時 2026年7月14日 
16:00~17:00
開催会場 ウェビナー
参加費 無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
内容
本ウェビナーでは、透過電子顕微鏡(TEM)におけるエネルギー分散型X線分光法(EDS)の基礎と活用方法について解説します。EDSの原理や元素分析の基本的な考え方を分かりやすく紹介するとともに、元素マッピングをはじめとする応用事例を通じて、研究・開発における活用例についても紹介します。また、測定条件設定のポイントや分析時の注意点など、実際のEDS測定に役立つ知識についても解説します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
  • EDSの基本原理
  • EDSの応用例
  • EDS測定時のポイント
参加いただきたいお客様
  • これからTEMを使い始める方
  • TEMを使い始めたばかりの方
  • TEMのEDS分析に関する基礎的な知識を学びたい方
講演者
三浦 颯人

日本電子株式会社
SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部

主催者の申し込み
ページ
以下のリンク先からお申し込みください
TEMにおけるEDSの基礎
その他
発表資料

発表資料の配布は行いません。

講演録画

後日講演録画をウェビナーアーカイブに掲載します。
掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。

質疑応答

講演終了後に質疑応答の時間を設けています。
ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。

お問い合せ 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は@に、ご変更ください。

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