プリント基板/ケーブル等、高速伝送路評価/不良解析セミナー ~実践編~ / テレダイン・レクロイ
| 主催会社 | テレダイン・レクロイ |
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| イベント名 | プリント基板/ケーブル等、高速伝送路評価/不良解析セミナー ~実践編~ / テレダイン・レクロイ |
| 開催日時 | 2026年1月22日 11:00~12:00 |
| 開催会場 | オンライン |
| 参加費 | 無料(事前登録制) |
| 内容 |
詳細
現在、組み込み機器などにおいてもシリアルインタフェースの高速化によりプリント基板やケーブルの品質によって起きる通信障害への対応がより高度に求められています。本セミナーにおいては、伝送路特性の評価の指標や不良原因の究明法等について、そうした目的で用いられるTDR測定器の基本から解説し、従来からある様々な課題とテレダイン・レクロイ製品による解決策まで幅広く知っていただくためのセミナーとなります。 セミナー内容
実践編では、TDR計測の基礎と重要ポイントを解説します。テレダイン・レクロイのTDR計測器「T3SP15D」を中心に、実測デモを交えながら評価・デバッグに役立つ機能の活用法をご紹介します。さらに、高機能モデル「WavePulser 40iX」も併せてご紹介します。
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| 主催者の申し込み ページ |
以下のリンク先からお申し込みください プリント基板/ケーブル等、高速伝送路評価/不良解析セミナー ~実践編~ |
| 対象 |
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| その他 |
対象製品
テレダイン・レクロイの測定器 T3SP15D、WavePulser 40iX
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