セミナー情報

2023/02/14

薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介 / 日本電子

主催会社 日本電子株式会社
イベント名 薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介
開催日 2023/2/14(火)16:00 ~ 17:00
会場 Zoom
参加費 無料
対象 膜厚測定を行いたい方
XRFの膜厚測定を高精度に行いたい方
XRF,XPSの使用に興味がある方
内容 試料表面に形成された薄膜・積層膜の元素組成や化学状態、その膜厚を調べるという要求は多くあります。そのような試料の分析には、SEM,TEMを用いて断面観察しながらの分析がよく行われていますが、高度な技能が必要となります。そこで、スクリーニングとして簡単に膜厚評価や状態分析を行いたい方に向けて、複雑な操作を行わず分析可能なXRFとXPSを紹介します。

【このウェビナーから学べること】
薄膜分析手法の例
XRFを用いた膜厚測定について
XPS,XRFを併用する有用性
主催者の申込みページ こちら⇒ 薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介~
その他 < 注意事項 >

・ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。

・競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。


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