2022/05/20
テレダイン・ジャパン「次世代パワーデバイス評価に必須!1GHz高電圧光絶縁プローブによる測定」 /日本パワーエレクトロニクス協会【開催日:5月20日】
| 主催会社 |
日本パワーエレクトロニクス協会 講演：テレダイン・ジャパン株式会社 |
|---|---|
| イベント名 | テレダイン・ジャパン「次世代パワーデバイス評価に必須！1GHz高電圧光絶縁プローブによる測定」 |
| 開催日時 | 2022年5月20日（金）14：55～15：15 |
| 会場 | Zoomを利用したWebセミナー |
| 参加費 | 参加無料、講演資料ご希望の方は10,000円（税抜）（ 講演資料は後からでも購入できます） |
| 内容 |
講演：テレダイン・ジャパン株式会社 次世代GaN/SiCデバイスの特性評価には最高でnsオーダーの急峻な立ち上がり波形を測定できる十分な帯域と、大きなコモンモードノイズをリジェクトできる高周波における十分なCMRRを持ったプローブが必要となります。特に高電圧にフローティングした状態での小振幅信号を測定しなければならないハイサイドゲート波形測定は条件が厳しく、従来型の高電圧プローブでは期待する結果が得られないことが多々生じます。今回は1GHz帯域の高電圧光絶縁プローブを使った次世代デバイスの特性測定を他のプローブの結果と比較し有効性を検証します。 |
| 主催者の申込みページ |
こちら⇒
https://pwel.jp/articles/318#Y06
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| 対象 |
・パワーデバイス評価をされている方 ・GaNおよびSiC半導体解析のための測定をされたい方 |
| その他 | 当講演は、上記の申込ページより第７回パワエレフォーラム「聴講」お申込み後、ご指定の時間にオンラインにて参加してください。 |