ロックインアンプの測定原理と使い方(中級編) /エヌエフ回路設計ブロック【開催日:12月9日】

主催会社	株式会社エヌエフ回路設計ブロック
イベント名	ロックインアンプの測定原理と使い方（中級編）
開催日時	12月9日（木）14:00 - 15:00（講演45分+質疑応答）
会場	オンラインセミナー（ウェブ会議システムZoomにて行います）
お問い合わせ	告知URL：こちら
参加費	無料
対象	・当社ロックインアンプセミナ基本編を受講された方・ロックインアンプの使用経験があり、さらに知識を深めたい方
内容	ロックインアンプは、微弱な信号を高精度に検出し、SN比のよい測定データを得られることから、分光分析などで広く使用されています。また、エヌエフのロックインアンプの位相検波や2位相2周波数測定の機能は、分光分析では比率測定や微分測定などに活用されています。本セミナーでは、分光分析を測定事例に取り上げ、各機能の詳細と使い方のコツをご紹介します。これらの機能は、半導体物性評価や走査型顕微鏡など様々な分野でも有用であり、参加者の皆様には新たな測定のヒントを得ていただけるよう、わかりやすく解説します。内容・分光分析と比率測定・変調信号と微分測定
ご用意いただくもの	閲覧端末(PC、タブレット、スマートフォンなど）インターネット回線、スピーカー、マイク

セミナー情報