ロックインアンプの測定原理と使い方(中級編) /エヌエフ回路設計ブロック【開催日:12月9日】
| 主催会社 | 株式会社エヌエフ回路設計ブロック |
|---|---|
| イベント名 | ロックインアンプの測定原理と使い方(中級編) |
| 開催日時 | 12月9日(木)14:00 - 15:00(講演45分+質疑応答) |
| 会場 | オンラインセミナー(ウェブ会議システムZoomにて行います) |
| お問い合わせ | 告知URL:こちら |
| 参加費 | 無料 |
| 対象 |
・当社ロックインアンプセミナ基本編を受講された方 ・ロックインアンプの使用経験があり、さらに知識を深めたい方 |
| 内容 |
ロックインアンプは、微弱な信号を高精度に検出し、SN比のよい測定データを得られることから、分光分析などで広く使用されています。また、エヌエフのロックインアンプの位相検波や2位相2周波数測定の機能は、分光分析では比率測定や微分測定などに活用されています。本セミナーでは、分光分析を測定事例に取り上げ、各機能の詳細と使い方のコツをご紹介します。これらの機能は、半導体物性評価や走査型顕微鏡など様々な分野でも有用であり、参加者の皆様には新たな測定のヒントを得ていただけるよう、わかりやすく解説します。 内容 ・分光分析と比率測定 ・変調信号と微分測定 |
| ご用意いただくもの |
閲覧端末(PC、タブレット、スマートフォンなど) インターネット回線、スピーカー、マイク |
