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2017/11/16

【展示会レポート】測定計測展 /Measuring Technology Expo 2017

 TechEyesOnline取材班(TEO)は、9月13日(水)~15日(金)に東京ビックサイト東ホールで開催された「測定計測展 /Measuring Technology Expo 2017」を取材しました。出展された多くの企業および製品の中から、TEOの目にとまった3社の魅力的な製品をご紹介します。

❶ カラー光切断法 ❷ 動画像運動解析ソフトウェア ❸ MAPVISION Quality Gate


❶ 白色LEDによる鮮明な3次元画像

製品名: カラー光切断法Ver.2.0
メーカ名: 株式会社アバールデータ
説明者: 本社・町田事業所 営業部 2グループ チーフ 坂本 章 氏

坂本氏

坂本 章 氏

坂本氏:本日展示しているのは、カラー光切断法を使った、3次元画像処理ソフトウェア製品です。製品構成は測定部分の装置(ハードウェア)と画像処理ソフトウェアとなります。三次元形状とテクスチャを同時に測定できて、3D形状検査計測用の画像処理ソフトウェアとしては、先日、アルゴリズムの部分で特許を取得しました。

TEO:これは搬送ステージに載ったコイン(被測定物)にレーザー光をあてて撮影しているのですか?

坂本氏:レーザー光ではなく、白色LEDの光をあてて、コインを3次元計測しています。ディスプレイ上に表示されている3つの測定画像でご説明しますと、左上がデプス高さ情報を示したもので、左下にあるのがテクスチャと呼ばれる、いわゆる2次元の画像データ、右側に大きくカラーで映っているのがメインの三次元画像になります。(右下図参照)
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