セミコンショーは、7月のSEMICON West(米国、SEMI主催)と12月のSEMICON Japan(SEMIジャパン主催)が大規模な世界2大イベントです。SEMICON Japan 2024は東京ビッグサイトの東ホール全部(Hall 1～8)を使って開催され、来場者の延べ人数は10万人を越えました(2023年は8.5万人)。展示された多くの計測器の中から、まだ展示会レポートで取り上げていない3製品をTechEyesOnline(TEO)取材班が紹介します。まず、赤外線を主とする光学機器の総合商社、アイ・アール・システムのアクティブサーモグラフィ。この分野をラインアップするInfraTecの製品群が、デバイス内の微細な不良を検知するデモを取材しました。次に、半導体製造装置向けのロードセルに注力するティアック。指示計やシグナルコンディショナの販売状況や、半導体市場の産業用イーサネットの規格動向など、興味深い話を伺いました。最後はパーティクルカウンタ(微粒子計測)の老舗、リオン。半導体の回路パターン幅の微細化が進み、3nm線幅デバイスが量産されています。2022年に発売された、従来品よりも測定粒子径が小さい20nmの液中パーティクルセンサを紹介します。

テクトロニクスは7月6日 (木) にTektronix Innovation Forum (TIF2023) をステーションコンファレンス東京で開催しました。同社のイノベーション・フォーラムはコロナ禍で2020年からオンライン開催でしたが、4年振りに対面での開催となりました。会場内の製品展示コーナから、TechEyesOnline (TEO) 取材班が新製品や計測ソリューションを紹介します。まず、広帯域オシロスコープとBERTによる試験とは異なるPCI Expressの新手法が開発されました。新製品のマージン・テスタ TMT4は短時間で簡便にテストができ、価格も従来機材より安価です。次は、業界標準だったA6906シリーズの後継として2010年代にリリースした光絶縁プローブが、第二世代のTIVPシリーズになり、GaNやSiCの高速スイッチングに対応しています。パワー半導体のダブル・パルス・テストを紹介します。さらに、車載EthernetのPAM3アイパターンのオンリーワン測定手法、オシロスコープのFFT解析 (FRA) の最新トレンドを取材しました。

TechEyesOnline取材班(TEO)は2019年11月27日(水)～29日(金)に東京ビックサイト西1～4ホールで開催されたIIFES(アイアイフェス)2019を回りました。従来の「システム コントロール フェア/計測展TOKYO」は「IIFES(Innovative Industry Fair for E x E Solutions」と名称変更し新たなスタートを切りました。PA(プロセスオーメーション)と計測器の総合展であることに変わりはありませんが、電機・計測産業を核とする産業界の最先端技術が集う場です。TEOは計測に焦点をあて、この展示会ならではの国内外リーディングカンパニーの製品を取材しました。まだ法令化されていないながら導入が進む新コスモス電機の空間ガス検知器、八洲貿易が33年前から輸入販売している校正用標準器のJOFRA温度キャリブレータ、発電所の定期検査では必需品、GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ(Baker Hughes)のDruck圧力校正器を紹介します。