従来比 100 分の 1 の時間で次世代半導体の X 線計測が可能なシステム商業生産を本格化 | 業界ニュース | TechEyesOnline

計測器のオンラインショップ「速納.com」

初めての方へ

広告掲載ご案内

お問い合わせ

ログイン会員登録

ホーム>業界ニュース>従来比 100 分の 1 の時間で次世代半導体の X 線計測が可能なシステム商業生産を本格化

業界ニュース

従来比 100 分の 1 の時間で次世代半導体の X 線計測が可能なシステム商業生産を本格化

リガクはマイクロスポット高分解能 X 線回折システム「XTRAIA (エクストライア) XD-3300」の本格商業生産を開始した。 [続きを読む]

提供元 : MONOist

おすすめの記事

2017/11/08

市場動向レポート「受変電・配電設備の保全と計測器の活用」2016年3月号 TechEyes Vol.16

2018/01/10

市場動向レポート「モータの市場動向と性能評価用測定器」2017年4月号 TechEyes Vol.22

2018/07/25

市場動向レポート「IoTを支える無線通信システム(5G/LPWA)と開発用の測定器」2018年8月号 TechEyes Vol.30

最新のセミナー情報はこちら

技術情報・レポートはこちら