2026/10/01
先進半導体パッケージの故障解析、浜松ホトニクスが新装置
浜松ホトニクスは、先進半導体パッケージの故障解析に対応した倒立型エミッション顕微鏡「iPHEMOS-DDX」を開発、2026 年 9 月 29 日から受注を始めた。AI チップレットや広帯域メモリ (HBM) などに用いられる 2.5D/3D パッケージや大型半導体パッケージの故障解析に向ける。 [続きを読む]
提供元 : EE Times Japan

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