2026/08/20
新形成技術で薄膜 p 型 GaN との低抵抗接触を実現
名古屋大学らによる ASPIRE (先端国際共同研究推進事業) 国際共同研究グループは、薄膜 p 型窒化ガリウム (p 型 GaN) 表面の平たんさを維持しつつ、低抵抗のオーミック接触を形成する技術を開発した。LED や p 型 GaN ゲート HEMT、HBT など、薄膜 p 型 GaN 層を用いる電子・光デバイスへの応用に期待する。 [続きを読む]
提供元 : EE Times Japan

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