2026/06/22 シェア 半導体デバイス内部における電流の通り道を可視化 東レリサーチセンター (TRC) は、半導体デバイスや有機 EL などの積層デバイス内部における電流の通り道を可視化する「表面分析サービス」を始めた。半導体デバイスの性能ばらつきや不良原因の解析などが可能となる。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan
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