2026/06/08 シェア 広い視野で高精細に観察できる X 線撮影技術、理研ら 理化学研究所 (理研) と大阪大学の研究グループは、ナノメートル領域で一瞬に起こる構造変化などを、広い視野で高精細に捉えることができる「X 線撮影技術」を開発した。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan
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