2026/04/17
SiC デバイスの潜在欠陥、ウエハーレベルで可視化へ
東京エレクトロン デバイス (TED) とアイテスは、SiC デバイスの潜在欠陥をウエハーレベルで可視化する検査ソリューション分野で協業する。UV レーザー技術を用いた新製品「SiC 潜在欠陥検査装置/通電劣化シミュレーター ITS-SCX100」の開発などを行っていく。 [続きを読む]
提供元 : EE Times Japan

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