MyAssets 計測器管理を、もっと簡単に、もっと便利に

業界ニュース

2025/11/06

SiC や GaN にも対応、アドバンテストのパワー半導体向け統合テスト基盤

アドバンテストは、パワー半導体向け統合テストプラットフォーム「MTe (Make Test easy)」を発表した。拡張性に優れた MTe は、自動車や産業機器などに用いられるパワー半導体素子やモジュールの検査/評価を、高い効率で行うことができる。 [続きを読む]
提供元 : EE Times Japan

おすすめの記事

新品オシロ・マルチ感謝キャンペーン