2019/03/19 シェア 解像力 200nm の X 線イメージング検出器を開発 高輝度光科学研究センター (JASRI) と理化学研究所、神島化学工業らの研究グループは、200nm の解像力を持つ「高解像度 X 線イメージング検出器」の開発に成功した。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan