2019/01/09 シェア 日本電子、集束イオンビーム加工観察装置を開発 日本電子は、集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)「JIB-4000PLUS」を開発し、販売を始めた。TEM (透過電子顕微鏡) などで行う試料観察に必要な、前処理の作業効率を高めることが可能となる。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan
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