2017/12/14 シェア 設計から量産まで、同じテスト環境を NI がデモ 日本ナショナルインスツルメンツ (日本 NI) は、「SEMICON Japan 2017」(2017 年 12 月 13 〜 15 日) で、PXI をベースにした半導体テストシステムを展示した。「設計にも量産にも対応できるテストシステム」を訴求する。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan
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