2017/09/26 シェア 透過電子顕微鏡画像から結晶欠陥を容易に検出 産業技術総合研究所 (産総研) の津田浩総括研究主幹らは、結晶構造の透過電子顕微鏡画像から、原子レベルの欠陥を検出する画像処理技術を東芝デバイス & ストレージと共同開発した。 [続きを読む] 提供元 : EE Times Japan
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