
- 販売開始
- 2019 年 4 月
- 販売状況
- 販売中
- 販売開始時参考価格
- -
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- サポート中
商品説明
高出力レーザの発光ビームプロファイル計測用高機能NFP 計測光学系です。
サンプルより出射された光束を対物レンズ後段の2 段ビームサンプラーにて減衰させ、結像レンズにて2 次元画像検出器に結像する方式を採用しています。
これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。
また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能です。
当社光ビーム解析モジュール AP013 との組み合わせによるハイパワーレーザNFP 計測システムの構築も容易に可能です。
商品スペック
>>もっと見る【方式 】ビームサンプラー(対物レンズ後方2 段)搭載型NFP 計測光学系+画像処理解析方式
【減光方式 】ビームサンプラー(2 段)により約99.99% 減光(反射光はビームダンパーにより遮蔽)、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式(標準で最大2 枚まで同時挿入可能)
【偏光依存性補償 】ビームサンプラー内蔵減衰ミラー2 段直交配置による偏光依存性補償
【対応波長域 】400~450nm/850nm/940nm
【測定可能入射光量】~ 10W(標準)(応相談)
【対物レンズ倍率 】M-Plan Apo NUV・M-Plan Apo NIR 各対物レンズに対応
【対物レンズ切替 】4 穴手動レボルバによる(対物レンズ4 本同時装着可能)
【中間レンズ倍率 】1 倍(標準)、0.5 倍・2 倍(オプション)
【落射照明ポート 】標準(外形φ8mm)(LED 同軸落射照明装置はオプション)
【カメラマウント 】C マウント
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