LS 13 320 XR レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置ベックマン・コールター | 計測器

ベックマン・コールター

レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置

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形名：LS 13 320 XR

ベックマン・コールター科学分析機器 LS 13 320 XR

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LS 13 320 XR レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置ベックマン・コールター

販売開始: 2018 年 6 月

販売状況: 販売中

販売開始時参考価格: －

サポート状況: サポート中

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商品説明

検出が困難だった微細な違いを測定次世代型PIDS技術*により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。
LS 13 320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。
様々な進化を遂げ、より微細な違いを測定可能となったことで、お客様をより大きくサポートいたします。
特長
・10 nm ～ 3,500 µmの広範囲を実測
・合否を自動ハイライトすることでより効率的に運用可能
・わずかな操作で標準測定を設定できるソフトウェア
(*Polarization Intensity Differential Scattering(偏光散乱強度差計測))

商品スペック

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【光源】Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
【測定範囲】10 nm ～3,500 µm
【測定モジュール】ドライパウダー(乾式)、リキッド(湿式)
【データ出力書式】PDF, Excel