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ケツト科学研究所

膜厚計

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形名：LZ200C
ケツト科学研究所 物理量測定器 LZ200C
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LZ200C 膜厚計 ケツト科学研究所
販売開始
2000 年 11 月
販売状況
メーカー問い合わせ
販売開始時参考価格
560,000 円 (税抜き)〜
サポート状況
メーカー問い合わせ
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商品スペック

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【測定方式】電磁誘導式・高周波渦電流式【測定対象】磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜

電磁誘導式
【測定範囲】0～1500μm
【精度】15μm未満±0.3μm、15μm以上±2%

高周波渦電流式
【測定範囲】0～800μm
【精度】50μm未満±1μm以上、50μm以上±3%

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