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Φ102/Φ150D大口径 FUJINONレーザー干渉計 裏面ノイズスキャンモデル

形名:G102S
G102S Φ102/Φ150D大口径 FUJINONレーザー干渉計 裏面ノイズスキャンモデル 富士フイルム
販売開始
1990 年 1 月
販売状況
販売中
販売開始時参考価格
サポート状況
サポート中
閲覧にあたっての注意事項
  • 販売開始時参考価格は発売当時の価格であり、現在の価格とは異なります。
    詳細はメーカへお問合せください。また、オプション構成によっても異なります。
  • 販売・サポートは登録時のものであり、現在の状況と異なる場合がございます。
    実際の状況はメーカーにお問合せください。
  • レンタル品は在庫が無く、ご希望に添えない場合がございます。予めご了承願います。
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商品説明

レンズや金属の表面形状をナノオーダで計測し、解析できます。サンプルの材質によらず、研磨面(鏡面)であればほとんど非接触観測が可能です。干渉縞を自動的に解析し数値化する縞解析装置も揃っており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムです。高精度平面板(ガラス、金属、セラミックなど)の平面度測定、光学レンズ、鋼球、プラレンズの面精度測定など、さまざまな用途に対応します。G102Sは裏面反射の影響を除去する新方式を採用。厚さ0.1mm以上の平行平面ガラスの測定が可能。スイッチの切換えにより通常のレーザー干渉計としても使用可能。
•φ102mm高精度平面板(ガラス、金属、セラミック等)の平面度測定、透過波面測定。
•ズームレンズ内蔵により小口径被検体も測定可能。
•コリメーターレンズ※を交換することにより最大φ150mmまでの被検体を測定可能。
•リモートコントロールが付いており、アライメント切替、光量調整、ズーム調整、フォーカス調整が簡単に調整可能。
•G102SはG102をベースに光源部に裏面反射の影響を除去する方式を採用。そのため、薄板ガラスや平行平面板など裏面の干渉縞が発生する被検体をG102Sを使用することで、表面形状を正確に測定することが可能。

商品スペック

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【光源】半導体レーザー(クラス1レーザー製品)
【波長】685nm±15nm
【形式】フィゾー型干渉方式
【有効光束径】φ102mm、φ150mm
【測定感度】λ/2(約0.3μm/縞)
【基準面精度】P-V値で32nm
【拡大倍率】6倍ズーム
【寸法】約360×365×1000mm
【質量】約70kg(本体のみ)
【電源】AC100V 50/60Hz 2A
【光源】He-Neレーザー(クラス1レーザー製品)
【波長】632.8nm
【形式】フィゾー型干渉方式
【有効光束径】φ102mm、φ150mm
【測定感度】λ/2(0.3μm/縞)
【基準面精度】λ/20
【拡大倍率】8.6倍ズームレンズ
【寸法】約305×365×765mm
【質量】約56kg
【電源】AC100V 50/60Hz 2A

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