計測器

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基本情報

販売開始
2000 年 1 月
販売状況
販売中
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A1 FUJINON 縞解析装置 富士フイルム

商品説明

レンズや金属の表面形状をナノオーダで計測し、解析できます。サンプルの材質によらず、研磨面(鏡面)であればほとんど非接触観測が可能です。干渉縞を自動的に解析し数値化する縞解析装置も揃っており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムです。高精度平面板(ガラス、金属、セラミックなど)の平面度測定、光学レンズ、鋼球、プラレンズの面精度測定など、さまざまな用途に対応します。A1はF601YAG102などの干渉計で得られた干渉縞を解析し、表面形状や透過波面形状を数値化、ビジュアル化することで、測定結果を詳細分析することができるため、開発や品質管理の向上に貢献します。
•P-V値(Peak to Valley)
測定した被検体で最も高い点(Peak)と最も低い点(Valley)の差を表示。
•RMS値(Root Mean Square)
各ポイントの測定値を二乗した値の平均値の平方根
•低モジュレーション
被検体のコントラストがよくない時に表示される値。
•輝度飽和点
光量が高いため干渉計のCCDカメラがサチュレーションを起こした画素を表示します。
•表示単位
μm : 10-3mmのことです。
nm : 10-6mmのことです。
fringe : 干渉縞何本に相当するかを表します。
wave : 波長の何倍に相当するかを表します。
•補正
傾き補正、傾き&パワー補正など選択された補正状況を表示。

商品スペック

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【表示項目】P-V値、RMS値、鳥瞰図、等高線図、断面図、ヒストグラム、ザイデル収差、ゼルニケ多項式係数、他
【解析画素数】256×256・512×512
【AD変換】10bit
【その他の機能】データ保存、合否判定、Code V出力、データサブトラクション
【構成品目】パソコン、LCD、カラープリンタ、パソコンラック、フリンジスキャンアダプター
【寸法】約700×700×1500mm(ラック含む)
【質量】約70kg(ラック含む)
【電源】AC100V 50/60Hz 5A

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