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商品説明
電子寿命拡散測定装置”PSL-100″は、SLIM-PCV(Stepped Light-induced Transient Measurements of Photocurrent and Voltage)法の測定理論に基づきサンプルセルレベルにおけるDSCの電子移動特性、”電子拡散係数(D)”及び”電子寿命(τ)”を測定します。太陽電池を構成する材料や作製プロセスの差異に応じて電子拡散係数及び電子寿命傾向の違いを調べることができますので、より詳細かつ効率的な研究を行うことができます。
商品スペック
>>もっと見る【設置条件】 屋内使用
【周囲温度】 10~40℃
【湿度】 70%以下(但し、結露のないこと)
【供給電源(計測装置本体)】 AC 100[V] ±10%
【周波数範囲】 50[Hz]/60[Hz]
【消費電力】 25[VA] 以下
【ウォームアップラン】 30分 以上
【外形寸法】 480(W)×200(H)×350(D)[mm]※但し、把手部及びゴム足部を除く
【重量】 10[kg]
【ソフトウェア仕様】 OS Microsoft®Windows 7 Professional 正規版Microsoft®Windows 7 Home Premium 正規版 Microsoft®Windows XP Professional Edition 正規版Microsoft®Windows XP Home Edition 正規版※Windows 7 Home Premium 正規版を推奨
【ハードディスク容量】 10GB以上の空き容量
【メモリ】 2GB以上
【画面解像度】 1280×1024ピクセル
【外部インターフェイス】 USBポート ×1 以上
【測定項目】 電子拡散係数(D)測定 電子寿命(τ)測定 電子密度(n)測定 I-Vカーブ測定
【データ解析】 データテーブル作成 解析プロット図描画 ・短絡電流密度 vs 電子拡散係数測定 ・短絡電流密度 vs 電子寿命 ・電子密度 vs 電子寿命・電子密度 vs 開放電圧
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