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商品説明
CL-2400 は導体・半導体を対象とした非接触厚さ計です。対向した2 個の VE シリーズセンサの間に測定対象を通すことにより、その厚さを測定することができます。BCD 出力、RS-232C インタフェース、ステータス出力、エラー信号出力、リモートコントロール入力など多種類の入出信号を標準装備して、パソコン、シーケンサ等の外部機器との通信ができ、計測装置のシステムアップが容易です。
商品スペック
>>もっと見る【測定項目】測定対象物の厚さ
【測定項目】センサAと測定対象とのギャップ
【測定項目】センサBと測定対象とのギャップ
【表示モード】厚さまたはギャップを絶対値表示
【表示モード】測定値の最大値、最小値、最大値-最小値
【分解能】CL-2400型に、予めセットされたセンサにより自動的に決定。センサ7種までセット可能。
【分解能】VE-121、VE-222、VE-521、VE-525A、VE-133→0.1μm単位
【分解能】VE-231、VE-531 →1μm単位
【パラメータ設定】測定・演算に必要な各種パラメータはパネル面の各種キーを使用し、内部メモリーに設定します。これらの設定値はパワーオフメモリーにより電源を切っても記憶されます。
【サンプリング時間】20ms
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