計測器

ビットエラーレートテスタ

テクトロニクス BSA260CBERTScorpe BSAシリーズ

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BSA260C ビットエラーレートテスタ テクトロニクス

商品説明

・最高26Gbpsのパターン生成、エラー解析、高速BER測定が可能
・さまざまな規格のストレス・レシーバ感度テスト、クロック・リカバリ・ジッタ・トレランス・テストに必要な、校正されたストレス信号生成が1台の計測器で可能
・電気ストレス・アイ・テスト
・ジッタトレランス・コンプライアンス・テンプレート・テストとマージン・テスト
・標準またはユーザ定義のジッタ・トレランス・テンプレートによる統合テストのための、マスク・テスト、ジッタ・ピーク(TJ@BER)、BER輪郭、Qファクタ(アイ高さ@BER)
解析による物理レイヤ・テスト・ソフトウェア
・詳細なアイ測定、マスク測定
・BER相関と統合されたアイ・ダイアグラム解析
・Dual-DiracによるTJ、DJ、RJの限界を超え、BERベースのジッタ分離を拡張する、オプションのジッタ・マップ総合ジッタ分離とPRBS-31などのロング・パターン・ジッタの三角測量により、総合的なジッタ構成要素の詳細解析が可能
・Error Location Analysis機能により、迅速なBER性能限界の確認、デターミニスティック・エラー対ランダム・エラーの評価、パターン依存エラーの詳細な解析、エ
ラー・バースト解析またはエラーフリー・インターバル解析が可能

商品スペック

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【周波数レンジ】100MHz~26GHz
【クロック/データ出力振幅】コンフィグレーション:差動出力、ペアのそれぞれは終端、振幅、オフセットに個別に設定可能、終端電圧:-2~+2V、コネクタ:3.5mm
【データ出力】フォーマット:NRZ、PRBSパターン:2n-1(n=7、11、15、20、23、31)
【クロック入力】スレッショルド電圧:-2~+3.5V、シングルエンド、コネクタ:3.5mm
【データ入力】コンフィグレーション:差動、フォーマット:NRZ、感度:100mVp-p(typ)(シングルエンド)/50mVp-p(typ)(差動)、コネクタ:3.5mm
【主な測定項目】エラー解析、アイ・ダイアグラム、マスク・テスト、ジッタ解析、Q値解析

オプション

  • エラー訂正符号化エミュレーション OpECC
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる
  • F/2ジッタ生成 OpF2
  • 販売時参考価格:ー
  • 8G/10.3125GでのF/2ジッタ生成(OpSTRが必要)
  • ジッタ分離 OpJ-MAP
  • 販売時参考価格:ー
  • ジッタ・トレランス・テンプレート OpJTOL
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる
  • ライブ・データ解析 OpLDA
  • 販売時参考価格:ー
  • エラー・マッピング解析 OpMAP
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる
  • PCIeの拡張ストレス生成 OpPCISTR
  • 販売時参考価格:ー
  • 物理レイヤ・テスト OpPL
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる
  • PatternVuイコライゼーション・プロセシング OpPVU
  • 販売時参考価格:ー
  • シンボル・フィルタリング OpSF
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる
  • ストレス・ライブ・データ OpSLD
  • 販売時参考価格:ー
  • ストレス信号生成 OpSTR
  • 販売時参考価格:ー
  • OpECC/MAP/PL/XSSC/JTOL/SFを含む
  • SSCの拡張 OpXSSC
  • 販売時参考価格:ー
  • OpSTRに含まれる

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